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  • 手持式歐寶app在線下載S1 TITAN	手持式歐寶app在線下載S1 TITAN

    手持式歐寶app在線下載S1 TITAN重量輕(1.23kg,測量范圍Mg-U)、是基于X射線管技術的手持式XRF分析儀。

  • 科研手持XRF光譜儀TRACER 5g 科研手持XRF光譜儀TRACER 5g

    TRACER 5g科研手持XRF光譜儀采用了一個帶有1μm石墨烯窗口的新探測器,石墨烯窗口取代了傳統的8μm鈹窗口

  • 微區X射線熒光光譜儀M4 TORNADO 微區X射線熒光光譜儀M4 TORNADO

    微區X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。

  • TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX

    TXRF全反射X射線熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析,元素范圍13Al-92U。

  • 微區X射線熒光成像光譜儀PLUS 微區X射線熒光成像光譜儀PLUS

    M4 TORNADO微區X射線熒光成像光譜儀PLUS是能夠檢測出C(6)-Am(95)間元素的微區X射線熒光成像光譜儀。

  • 便攜臺式xrf分析儀 便攜臺式xrf分析儀

    便攜式XRF分析儀適用于在實驗室外檢測固體、粉末和液體。

  • 手持式合金分析儀S1 TITAN 手持式合金分析儀S1 TITAN

    手持式合金分析儀是質量控制(QA/QC)、材料分析(PMI)、混料識別、廢料分揀(Recycling)、牌號識別(Grade ID)等領域中的檢測設備。

  • 探針式輪廓儀Dektak XTL 探針式輪廓儀Dektak XTL

    鉑悅探針式輪廓儀是一種用于化學、材料科學、電子與通信技術、化學工程領域的分析儀器。分析樣品表面大尺寸三維形貌,探測樣品厚度。

  • 臺階儀-表面輪廓儀DEKTAK XT 臺階儀-表面輪廓儀DEKTAK XT

    德國布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)可以提供更高的重復性和分辨率,測量重復性可以達到5Å。

  • 光學輪廓儀ContourGT-X 光學輪廓儀ContourGT-X

    ContourGT-X是實驗室開發到批量生產均可適用的儀器。

  • 3D掃描儀 MICRON3D green 3D掃描儀 MICRON3D green

    MICRON3D掃描機的開發和完善花費了兩年多的時間,讓我們能夠充分研究這種3D掃描儀的每個細節。我們的設計師根據掃描儀用戶的調查問卷精心制定了3D掃描機的基本要求。

  • 薄膜厚度 薄膜厚度

    鉑悅儀器薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距離,而實際上,薄膜的表面是不平整,不連續的,且薄膜內部存在著針孔、微裂紋、纖維絲、雜質、晶格缺陷和表面吸附分子等。

  • 反射膜厚儀 反射膜厚儀

    反射膜厚儀是一種非接觸式、快速的光學薄膜厚度測量技術。

  • Dimension FastScan Dimension FastScan

    掃描速度快、分辨率高的的原子力顯微鏡Dimension FastScan

  • I-V 曲線測試儀 I-V 曲線測試儀

    PV200為光伏系統提供了一個測試及診斷解決方案

  • 電荷靈敏前置放大器 電荷靈敏前置放大器

    CUBE(立方)是一種以脈沖復位模式運行的單片電荷靈敏式前置放大器,借助外部電阻器,也可以以連續復位模式運行。

  • 原子力顯微鏡探針/AFM探針 原子力顯微鏡探針/AFM探針

    鉑悅原子力顯微鏡探針(AFM探針),是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。在表面科學、納米技術領域、生物電子等領域,逐漸發展成為重要的、多功能材的材料表征工

  • 涂層測厚儀 涂層測厚儀

    涂層測厚儀應用范圍廣泛:它們是檢查進貨部門所交付材料的理想工具。

  • 涂層測厚儀SURFIX®X系列 涂層測厚儀SURFIX®X系列

    先進的測量儀器: 彩屏, PC 連接,易操作, 以及適合PHYNIX探頭。

  • 涂層測厚儀SURFIX®系列 涂層測厚儀SURFIX®系列

    用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍涂層的測量

  • 緊湊式鍍膜機 緊湊式鍍膜機

    CCU-010 鍍膜機提供兩種款型。CCU- 010 LV低真空鍍膜機,CCU- 010 HV 高真空鍍膜機。

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網絡研討會| 寶石礦物分析中微區XRF、SEM-EDS的應用 2021-12-02

寶石類礦物的品質主要取決于微量元素和內部雜質。

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