TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX-AG手机客户端最新版本有限公司

您當前的所在位置為:AG手机客户端最新版本>產品中心>全反射X射線熒光光譜儀>TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX
相關文章

TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX

更新時間:2021-03-02

產品品牌:Bruker

產品型號:S2 PICOFOX

產品描述:TXRF全反射X射線熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析,元素范圍13Al-92U。

痕量分析 TXRF 光譜儀
       TXRF全反射X射線熒光光譜儀快速多元素痕量分析可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析,元素范圍13Al-92U。
       需要樣品量少,液體及懸浮物樣品1-50微升,粉末樣品10微克以內。 
       便攜式全反射熒光儀,設備小巧,一體化結構設計,不需要任何輔助設備及氣體、液氮等,可拿到現場進行分析。 
       1位及25位全自動進樣器兩款設計,分別適用于每天有少量樣品及大批量樣品的全自動分析。 
       第四代XFlash®SDD硅漂移探測器,采用帕爾貼冷卻技術,不需要液氮,沒有任何消耗。分辨率160eV at MnKa 100Kcps。 
       由于全反射無背景,熒光強度與元素含量直接成正比。標準曲線工廠已校準好,用戶不需要標樣就可以進行定量分析。

行業應用:

水、廢水、土壤中的污染元素;血液、尿液、組織中的有毒元素;食品、醫藥、刑偵、環保、陶瓷、水泥、建材、地質等領域。

在線留言
聯系我們

電話:86-021-37018108

傳真:86-021-57656381

郵箱:info@boyuesh.com

地址:上海市松江區莘磚公路518號松江高科技園區28幢301室

Copyright © 2013 TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX-AG手机客户端最新版本有限公司 版權所有 備案號:滬ICP備10038023號-1
<del dropzone="ingz"><legend dir="ktao"></legend></del><bdo dir="prd"><time id="esa"></time><legend dropzone="wtwe"><time dropzone="byk"></time></legend></bdo>